拉曼光谱已被证明是表征半导体特性和制造工艺/质量控制的有效工具之一，因为诸如Si、SiGe、InGaAs、GaAs，GaN和石墨烯等材料表现出精确、独特的拉曼带。在微观方法中，拉曼技术已成功应用于确定薄膜上的微观结构组成、多层器件中的应变以及识别晶片表面的缺陷。

产品和应用说明

1、石墨烯的Nomadic™ 拉曼显微镜

资料下载：BaySpec_AppNote_Graphene.pdf